Großanalysengeräte
Zur Charakterisierung von Oberflächen mobiler aquatischer Partikel und poröser Medien nutzen wir Rasterelektronenmikroskopie und Kraftmikroskopie.
REM-Labor
Großgeräte
Rasterelektronenmikroskopie
Foto: HydrogeologieFeldemissions-Rasterelektronenmikroskop
SEM-EDX ULTRA PLUS, Zeiss AG
Elektronenmikroskopie erlaubt eine deutlich stärkere Vergrößerung als die Lichtmikroskopie, die durch das Abbe Limit auf einige hundert Nanometer beschränkt ist. Damit können Nanopartikel, Kolloide und organische Substanzen morphologisch und durch den EDX-Detektor auch chemisch charakterisiert werden.
Kraftmikroskop
Foto: Christoph Worsch (Universität Jena)Kraftmikroskop
AFM Multimode Picoforce VEECO INSTRUMENTS, AFM Bioscope II VEECO INSTRUMENTS mit Axio Observer.Z1 ZEISS
Das Rasterkraftmikroskop gibt durch Abrastern mit einem (mikroskopische Nadel) ein dreidimensionales Abbild einer Oberfläche, das sogar höhere Auflösungen als bei der Elektronenmikroskopie erreicht. Durch direkten Kontakt des Cantilevers können auch oberflächenaktive Adhäsionskräfte gemessen werden.
Kontakt
Kai Uwe Totsche, Prof. Dr.
- kai.totsche@uni-jena.de
- Telefon
- +49 3641 9-48650
- Fax
- +49 3641 9-48652
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